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Produktliste
Schichtdickenmessung
Messung transparenter optischer Schichten, Mehrschichtfolien,
Anbieter: SPECK SENSORSYSTEME GmbH 07745 Jena
SENTERRA II: kompaktes Raman-Mikroskop
Das SENTERRA II ist ein konfokales Raman-Mikroskop für bildgebende Mikroskopie und "Point-and-Shoot"-Analysen. Der hohe Automatisierungsgrad ermöglicht hohen Probendurchsatz und Zuverlässigkeit in Qualitätskontrolle und Forschung.
Hersteller: Bruker Optics GmbH & Co. KG
Anbieter: Bruker Optics GmbH & Co. KG 76275 Ettlingen
TANGO: FT-NIR Spektrometer
Schneller, einfacher, sicherer - mit TANGO wird Ihre NIR-Analyse beschleunigt. TANGO hat genau das, was Benutzer von einem FT-NIR-Spektrometer für den industriellen Einsatz erfordern: Robustheit, hohe Genauigkeit und einfache Bedienerführung.
Hersteller: Bruker Optics GmbH & Co. KG
Anbieter: Bruker Optics GmbH & Co. KG 76275 Ettlingen
TAVI.02
TAVI.02 ist ein sehr leistungsfähiges Inspektions- und Sortiersystem, das mit 2 Glastellern ausgestattet ist und somit eine hochgenaue Rundumprüfung ermöglicht. Zudem verfügt die TAVI.02 über eine Lageerkennung, so dass auch Teile mit 2 verschiedenen Seiten zuverlässig geprüft werden können.
Für Präzisionsteile aus verschiedenen Materialien, die in hochsensiblen Bereichen der Automobil-, Luftfahrt- oder Raumfahrtindustrie eingesetzt werden, gelten besondere Qualitätsansprüfche.
Anbieter: Brüder Neumeister GmbH 77933 Lahr